热敏电阻特性研究仪

（Thermistor Characteristics Research Instrument）

一、简介

热敏电阻特性研究仪是研究一种电阻值随其电阻体的温度变化呈显著变化的热敏感电阻的。热敏电阻是多由金属氧化物半导体材料制成。也有由单晶半导体、玻璃和塑料制成的。

二、结构特点

热敏电阻特性研究仪由主机和电阻箱两部分组成。仪器配有铠装式正、负温度系数热敏电阻（PTC、NTC）各一副，仪器可以大大提高器件的机械强度。

三、实验原理

1.热敏电阻温度特性原理

实验表明在一定温度范围内，半导体的电阻率ρ与绝对温度T（单位K）之间的关系为

热敏电阻温度系数的定义式为  

α不仅与材料常数有关，还与温度有关，低温段比高温段更灵敏。

2.直流电桥电路原理

当电桥平衡时有

Kr为倍率，R3为比较电阻。Rx为待测电阻，在热敏电阻测量电路中用RT表示。

四、实验内容

1.组装仪器

（1）利用实验装置提供的元器件，按照图1自行组装惠斯登电桥。

（2）把两个传感器同时插入加热井中，测量时把选中的热敏电阻的引线接到电桥中的Rx两端。

2.预设参数

（1）根据不同的温度值，估计负温度系数（NTC）和正温度系数（PTC）热敏电阻的阻值范围，选择合适的倍率Kr = R1/R2（记录此值），并把比较电阻R3预先调节到适当的阻值，防止开机测量时通过热敏电阻和检流计的电流过大。

（2）把惠斯登电桥的工作电压调节到2~3V。

3.加热控制

使用电子式温度指示调节仪，设置加热井的温度t（最高99.9℃），“加热选择Ⅰ”为16V慢加热，“加热选择Ⅱ”为24V快加热，风扇可对加热井散热降温。